隨著人民生活的不斷改善，人們對于滿足精神文化需求的具文化屬性的消費品將會越來越關(guān)注。珠寶玉石作為中國傳統(tǒng)文化的主要載體之一，其發(fā)展必然將對珠寶玉石的檢驗檢測提出更多需求。

傳統(tǒng)觀念上，珠寶玉石僅指天然珠寶玉石，即指自然界產(chǎn)出的，具有色彩瑰麗、晶瑩剔透、堅硬耐久，并且**及可琢磨、雕刻成首飾和工藝品的礦物、巖石和有機材料，天然珠寶玉石是目前珠寶玉石行業(yè)的主流產(chǎn)品。而人工寶石主要用于時尚首飾、工藝品、裝飾品以及其它如鐘表、服裝、皮具和燈具等。

隨著造假技術(shù)的不斷提高，很難再依靠人眼以及經(jīng)驗來判別珠寶玉石的真假。因此，珠寶檢測的需求也從原先的寶玉石及其相似品、仿制品的鑒定需求逐步演化為對寶玉石是否為人工合成以及是否經(jīng)優(yōu)化處理技術(shù)的鑒定需求，進而上升為近期熱點的產(chǎn)地歸屬鑒定需求。同時，對于珠寶玉石質(zhì)量的評價也從主觀比對上升為客觀可量化指標的比對。

因此，對于微區(qū)分析、化學指紋信息分析類儀器的將會成為未來一段時間內(nèi)的重點需求。無損、快速、微區(qū)、高分辨率是對未來儀器設(shè)備及檢驗檢測技術(shù)的更高要求。

《珠寶玉石鑒定紅外光譜法》是2019年10月01日實施的一項行業(yè)標準。

紅外光譜技術(shù)的應用特點是具備較高的準確性、高效性和便捷性，不僅能夠更加高效地完成對珠寶玉石的鑒定，鑒定過程中也比較簡單，也能夠保證鑒定結(jié)果的準確性。

不同類型的珠寶玉石對紅外光的吸收效果有一定的區(qū)別，其所具備的紅外吸收特征也不同。在珠寶玉石鑒定中，利用紅外光譜技術(shù)對珠寶玉石進行鑒定，并分析寶石的紅外光譜圖，可以有效地辨別珠寶玉石的種屬。

對珠寶玉石種屬的鑒定主要使用到紅外光譜技術(shù)的反射法，即利用紅外光照射珠寶玉石的表面，并分析珠寶玉石表面對紅外光的反射，可以準確鑒定出珠寶玉石的種屬。尤其是對于品種相似的珠寶玉石的辨別，利用這種技術(shù)可以準確分辨出不同品種的寶石。

無損測試時主要影響因素

無損測試時常常有多個影響結(jié)果的因素，包括：晶體的方向性、樣品對紅外光的透明度;反射譜圖受色散影響引起譜圖畸變。其中不同結(jié)晶方向可呈現(xiàn)差異紅外光譜的晶體寶石，多方向晶體共存樣品（晶質(zhì)集合體)譜圖因擬合效應存在畸變礦物顆粒的大小影響譜圖某些譜帶的擬合程度。直接透射譜圖對透射光能量的衰減受復雜因素影響。

無論如何，穿過樣品的光程總會是影響優(yōu)良吸光度的重要因素，所有珠寶玉石都應考慮超大光程引發(fā)的譜圖中湮沒特征吸收峰的可能性。無機寶石的大拋光平面理論上符合衰減全反射法的測試要求，但樣品平面與ATR附件高折射率晶體面難以實現(xiàn)緊密貼合，因此測試效果不佳具有可逆塑變性(彈性)的有機寶石，易借助一定壓力與ATR 附件高折射率晶體表面形成緊密貼合，可獲得信噪比較好的譜圖，但需注意過大的壓力可能擠碎被測樣品和/或ATR附件上的高折射率晶體。
  無論何種采譜方式，與主體寶玉石成分不同的物質(zhì)，如包裹體、浸入物、表面覆層等，均可能對譜圖信號造成影響。

操作步驟

1. 開機，建議預熱30min。

2. 選擇設(shè)置測試條件，包括分辨率、掃描計數(shù)、掃描波數(shù)范圍等。

(注:分辨率推薦8cm-1或優(yōu)于8cm-1、掃描計數(shù)推薦不小于8Scans，必要時，可設(shè)置為上百甚至數(shù)千Scans、掃描范圍一般情況下推薦6000cm^-1~400cm^-1。若針對不同采樣方式進行有針對性的設(shè)置，反射法推薦2000cm-1~400cm-1或4000cm-1~400cm^-1;透射法推薦6000cm^-1~2000cm^-1或6000cm^-1~400cm^-1，特殊情況下設(shè)置為7500cm^-1~400cm^-1或僅針對某較小波數(shù)段范圍進行掃描，如3600cm^-1~3400cm^-1等。)

     3.背景掃描(若對大氣干擾扣除要求較高時，可采取先測樣品后立刻扣除背景的掃描方式)。

4.測試樣品。為獲得盡可能多的證據(jù)信息，宜采用不同操作方法從不同方向采集譜圖。

5.參照標準與已知寶石材料的紅外光譜進行比較分析。

6. 需要時，對原始譜圖進行必要的處理，如:對反射譜圖進行K-M轉(zhuǎn)換以獲得吸收光譜，對反射法光譜進行K-K變換有利于與溴化鉀粉末壓片透射法譜圖進行比對，對衰減全反射(ATR)法獲得的譜圖進行ATR校正，當譜圖基線不水平時進行適當?shù)男Ｕ?/span>

(注:珠寶玉石以其較強的光澤屬性及拋磨光潔的表面形貌，借助各種反射附件采集其反射譜圖時，進入到儀器檢測器的鏡面反射信號占據(jù)優(yōu)良比例，因此宜采用反射法光譜處理技術(shù)對譜圖進行變換校正，即K-K變換。)